影像科学与光化学 ›› 1984, Vol. 2 ›› Issue (2): 63-67.DOI: 10.7517/j.issn.1674-0475.1984.02.63
张灿1, 胡兴洲1, 王殿勋1, 陈传正2, 李少羽2
ZHANG CAN1, Hu XIN-ZHOU1, WANG DIAN-XUN1, CHEN CHUAN-ZHENG2, LI SHAO-YU2
摘要: 本文用X-射线光电子能谱(XPS)研究了聚丙烯膜表层的光氧化产物,得出几种主要氧化产物的相对含量随氧化时间变化的规律并将其与缸外光谱所测结果及文献报道的相比较,证明膜表层光氧化和膜整体光氧化规律有所不同。根据实验结果提出了反应机理。