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SEM法测量T颗粒厚度
刘素文, 岳军, 阎天堂
MEASURING THE THICKNESS OF TABULAR SILVER HALIDE CRYSTALS WITH SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE
LIU SU-WEN, YUE JUN, YAN TJAN-TANG
影像科学与光化学 . 1993, (
1
): 1 -4 . DOI: 10.7517/j.issn.1674-0475.1993.01.1