SEM法测量T颗粒厚度

doi:10.7517/j.issn.1674-0475.1993.01.1

影像科学与光化学 ›› 1993, Vol. 11 ›› Issue (1): 1-4.DOI: 10.7517/j.issn.1674-0475.1993.01.1

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SEM法测量T颗粒厚度

刘素文, 岳军, 阎天堂

中国科技大学近代化学系合肥 230026

收稿日期:1991-10-04 修回日期:1992-09-29 出版日期:1993-02-20 发布日期:1993-02-20
通讯作者: 刘素文

MEASURING THE THICKNESS OF TABULAR SILVER HALIDE CRYSTALS WITH SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE

LIU SU-WEN, YUE JUN, YAN TJAN-TANG

Department of Modern Chemistry Vnitersity of Science & Technology of China, Hefei 230026, P. R. China

Received:1991-10-04 Revised:1992-09-29 Online:1993-02-20 Published:1993-02-20

摘要/Abstract

摘要： 本文利用扫描电子显微镜(SEM)的二次电子影像富有很强的立体感这一特点,对卤化银T颗粒的厚度及宽厚比进行了测量和观察,介绍了这种电镜样品的制备技术,以及利用SEM的倾斜角效应拍摄能反映微粒空间立体形状和T颗粒厚度的方法。

关键词: T-颗粒, 宽厚比, 扫描电子显微镜, 厚度, 倾斜效应

Abstract: A Simple method for measuring the thickness of tabular silver halide grains with scanning electronic microscope is reported in the present paper. The preparation of the specimen and the application of inclination effect of scanning electronic microscope for measuring the thickness of T-grain are also discussed.

Key words: tabular grain, aspect ratio, scanning electronic microscope, inclination effect, thickness

刘素文, 岳军, 阎天堂. SEM法测量T颗粒厚度[J]. 影像科学与光化学, 1993, 11(1): 1-4.

LIU SU-WEN, YUE JUN, YAN TJAN-TANG. MEASURING THE THICKNESS OF TABULAR SILVER HALIDE CRYSTALS WITH SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE[J]. Imaging Science and Photochemistry, 1993, 11(1): 1-4.

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SEM法测量T颗粒厚度

MEASURING THE THICKNESS OF TABULAR SILVER HALIDE CRYSTALS WITH SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE

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