cdSexTe1-x薄膜电极光溶解性能的研究

doi:10.7517/j.issn.1674-0475.1990.02.113

影像科学与光化学 ›› 1990, Vol. 8 ›› Issue (2): 113-120.DOI: 10.7517/j.issn.1674-0475.1990.02.113

cdSe_xTe_1-x薄膜电极光溶解性能的研究

张志伟, 肖绪瑞, 孙璧媃

中国科学院感光化学研究所, 北京 100101

收稿日期:1988-09-24 修回日期:1989-07-03 出版日期:1990-05-20 发布日期:1990-05-20
通讯作者: 肖绪瑞

A STUDY ON THE PHOTODISSOLUTION OF CdSe_xTe_1-x THIN FILM ELECTRODES

ZHANG ZHI-WEI, XIAO XU-RUI, SUN BI-ROU

Institute of Photographic Chemistry, Acadcmia Sinica, Beijing 100101, P.R. China

Received:1988-09-24 Revised:1989-07-03 Online:1990-05-20 Published:1990-05-20

摘要/Abstract

摘要： 用循环伏安法对半导体Cdse_xTe_1-x薄膜电池的光溶解性能进行了研究。在1mol/L KCl溶液中测量光溶解产物的阴极还原特性,考察了在多硫化钠,多硫化钾及铁氰化钾溶液中的光腐蚀行为。用此方法还研究了薄膜电极表面的光刻蚀过程和pH的影响,并用X射线光电子能谱分析光刻进行不同时间后,电极表面发生的变化。

关键词: 光溶解, 光腐蚀, 光刻蚀, 薄膜电极, 循环伏安, X射线光电子能谱

Abstract: Photodissolution behaviours of semiconductor CdSe_0.63Te_0.37 thin film electrodes were investigated by cyclic voltammetry.By measuring the I-V performances of cathodic reduction processes for the products of photodissolution in Imol/L KCl solution,the photocorrosion of CdSe_0.63Te_0.37 thin film electrodes in polysulfide and ferro-ferricyanide solutions was tested.Surface photoetching processes and effects of pH was also studied by this method.X-ray photoele-ctron spectroscopy was used to analyze the changes of thin film surface prior to and after photoetching.

Key words: Photodissolution, photocorrsion, photoetching, thin film electrode, cyclic voltammetry, X-ray photoelectron spectroscopy

张志伟, 肖绪瑞, 孙璧媃. cdSe_xTe_1-x薄膜电极光溶解性能的研究[J]. 影像科学与光化学, 1990, 8(2): 113-120.

ZHANG ZHI-WEI, XIAO XU-RUI, SUN BI-ROU. A STUDY ON THE PHOTODISSOLUTION OF CdSe_xTe_1-x THIN FILM ELECTRODES[J]. Imaging Science and Photochemistry, 1990, 8(2): 113-120.

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