硫增感AgBr I T颗粒乳剂光电子行为研究

doi:10.7517/j.issn.1674-0475.2003.03.176

影像科学与光化学 ›› 2003, Vol. 21 ›› Issue (3): 176-183.DOI: 10.7517/j.issn.1674-0475.2003.03.176

硫增感AgBr I T颗粒乳剂光电子行为研究

杨少鹏, 董国义, 陆晓东, 李晓苇, 傅广生

河北大学, 物理科学与技术学院, 保定, 071002

收稿日期:2003-01-20 修回日期:2003-03-16 出版日期:2003-05-23 发布日期:2003-05-23
通讯作者: 杨少鹏,E-mail:spyang@mail.hbu.edu.cn,电话:(0312)-5079355,传真:(0312)-5011174
基金资助:
国家自然科学基金资助项目(10274017),教育部重点科研项目(01011)

PHOTOELECTRON ACTION IN THE SULFUR-SENSITIZED T-GRAINS AgBr I EMULSION

YANG Shao-peng, DONG Guo-yi, LU Xiao-dong, LI Xiao-wei, FU Guang-sheng

College of Physics Science and Technology, Hebei University, Baoding 071002, P.R.China

Received:2003-01-20 Revised:2003-03-16 Online:2003-05-23 Published:2003-05-23

摘要/Abstract

摘要： 本文利用微波吸收相敏检测技术,同时获得了硫增感AgBrIT颗粒乳剂,在不同增感条件下自由光电子和浅俘获光电子的时间衰减曲线,分析了不同的硫增感产物的陷阱效应.结果表明:开始时,增感产物起电子陷阱作用,至45 min时,浅电子陷阱作用最佳.如增感时间进一步增加,硫增感产物将变为深电子陷阱.本文还讨论了浅电子陷阱中浅俘获光电子衰减时间与阱深的依存关系.

关键词: 微波吸收相敏技术, 硫增感, 电子陷阱, 光电子

Abstract: The decay characteristics of photoelectrons and shallow trapped electrons have been obtained in the sulfur sensitized AgBr I T-grains emulsion by microwave absorption and dielectric spectrum measure technique.The different results of different sensitizing time samples related to the effects of electron traps have been analyzed.It could be concluded that the sulfur sensitized centers will act as shallow electron traps at the time of 45 minutes,and act as deep electron traps with the continuous increase of sensitizing time.In addition,the relationships between the depths of different shallow traps and the decay times of shallow-electrons have been also discussed.

Key words: microwave absorption and dielectric spectrum measure technique, sulfur sensitization, electron trap, photoelectron

中图分类号:

TQ57

杨少鹏, 董国义, 陆晓东, 李晓苇, 傅广生. 硫增感AgBr I T颗粒乳剂光电子行为研究[J]. 影像科学与光化学, 2003, 21(3): 176-183.

YANG Shao-peng, DONG Guo-yi, LU Xiao-dong, LI Xiao-wei, FU Guang-sheng . PHOTOELECTRON ACTION IN THE SULFUR-SENSITIZED T-GRAINS AgBr I EMULSION[J]. Imaging Science and Photochemistry, 2003, 21(3): 176-183.

[1]	Samuel Lascio, 籍海峰. 磷纳米材料的光学、光电子和光催化应用[J]. 影像科学与光化学, 2017, 35(5): 587-602.
[2]	李智, 段培成, 杨新民, 郑彤. 反相微乳液法制备纳米Ag₂S增感剂的化学增感研究[J]. 影像科学与光化学, 2008, 26(5): 385-392.
[3]	王英茹, 柳青. K₄[Ru(CN)₆]对T-颗粒溴碘化银乳剂感光性能及光电子寿命影响的研究[J]. 影像科学与光化学, 2008, 26(3): 244-253.
[4]	杨少鹏, 郑红芳, 傅广生, 李晓苇, 许春华, 李金培. 纳米硫化铅增感的溴化银微晶中光电子衰减特性研究[J]. 影像科学与光化学, 2006, 24(1): 9-16.
[5]	刘霁, 周涛, 岳军. 卤化银微晶体的光电子行为[J]. 影像科学与光化学, 2005, 23(3): 218-231.
[6]	傅广生, 刘荣鹃, 杨少鹏, 江晓利, 代秀红, 李晓苇. 曝光强度对卤化银微晶中载流子行为及其陷阱效应的影响[J]. 影像科学与光化学, 2005, 23(1): 21-28.
[7]	李东芹, 黄碧霞, 岳军, 周涛. 明胶与Ag⁺相互作用的XPS研究[J]. 影像科学与光化学, 2004, 22(3): 169-174.
[8]	刘霁, 宋磊, 岳军. 纳米尺度AgBr/I乳剂颗粒的光电子衰减行为[J]. 影像科学与光化学, 2004, 22(2): 81-87.
[9]	曹立志, 庄思永. 溴碘化银T-颗粒晶体中的电子和空穴行为研究[J]. 影像科学与光化学, 2004, 22(2): 114-119.
[10]	曹立志, 王晗, 焦家俊, 庄思永. 卤化银成像体系中的硫增感[J]. 影像科学与光化学, 2003, 21(6): 432-445.
[11]	杨少鹏, 傅广生, 曹宁, 孟涛, 董国义, 李晓苇. 染料增感AgBr乳剂的光电子衰减动力学研究[J]. 影像科学与光化学, 2003, 21(5): 321-327.
[12]	戴晖, 梁冰, 庄思永, 孙健, 张大德. [Fe(CN)₆]^4-在溴碘化银T-颗粒乳剂中的掺杂[J]. 影像科学与光化学, 2001, 19(4): 262-267.
[13]	张宜恒, 冯少红, 闫天堂, 宫竹芳, 俞书勤, 庄思永, 彭必先. 蛋氨酸与化学增感剂的相互作用机理[J]. 影像科学与光化学, 2001, 19(1): 19-28.
[14]	戴晖, 梁冰, 庄思永. 卤化银乳剂制备中的新型掺杂剂[J]. 影像科学与光化学, 2001, 19(1): 72-78.
[15]	史瑶, 赵文芳, 杨新民, 夏培杰. 硫增感的敏化中心和潜影中心的氧化还原性能的研究[J]. 影像科学与光化学, 2000, 18(2): 150-154.

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